Una microsonda electrónica (EMP), también conocida como microanalizador de sonda electrónica (EPMA) o analizador de microsonda electrónica (EMPA), es una herramienta analítica utilizada para determinar de forma no destructiva la composición química de pequeños volúmenes de materiales sólidos.
¿Para qué se puede utilizar una microsonda electrónica?
Un microanalizador de sonda de electrones es un instrumento de microhaz utilizado principalmente para el análisis químico no destructivo in situ de muestras sólidas diminutas. EPMA también se denomina informalmente microsonda electrónica, o simplemente sonda. Es fundamentalmente lo mismo que un SEM, con la capacidad añadida de análisis químico.
¿Cuál es la diferencia entre SEM y EPMA?
Ambos instrumentos tienen el mismo principio básico de funcionamiento y comparten muchos componentes. Sin embargo, SEM está optimizado para imágenes, especialmente cuando se necesitan imágenes de alta resolución, mientras que EPMA está diseñado principalmente para análisis cuantitativo.
¿Por qué es tan importante pulir y recubrir con carbón las muestras antes del análisis con microsonda electrónica?
Recubrir la muestra con carbono permite que los electrones en exceso se alejen del haz de electrones enfocado durante el análisis y reduce los efectos de la carga.
¿Cómo funciona una microsonda?
En una microsonda electrónica, una muestra sólida colocada en el vacío se bombardea con un haz enfocado de electrones de alta energía (acelerados) (voltaje de aceleración de 5 a 30 keV). Este bombardeo da como resultado una variedad de interacciones entre los electrones del haz y los átomos y sus electrones en la muestra (Figura 1).
¿Qué significa microsonda?
: un dispositivo para microanálisis que opera excitando radiación en un área diminuta de material para que la composición pueda determinarse a partir del espectro de emisión.
¿Qué es un microanalizador de sonda electrónica?
El microanalizador de sonda de electrones (EPMA) es una herramienta para determinar la composición química de pequeños volúmenes de materiales sólidos. Esta técnica es similar a la microscopía electrónica de barrido, donde se pueden investigar volúmenes de muestra de 10 a 30 μm3.
¿Qué fuente de electrones se utiliza en Epxma?
La EPXMA de emisión de rayos X inducida por electrones y protones se puede realizar en microscopios electrónicos (de barrido) equipados con un detector de semiconductores o en analizadores de microsonda electrónica con un detector de ED y uno o más sistemas de detección de WD.
¿Cuál es la diferencia entre EDS y WDS?
Los espectrómetros de dispersión de energía (EDS) clasifican los rayos X en función de su energía; mientras que los espectrómetros de dispersión de longitud de onda (WDS) clasifican los rayos X en función de sus longitudes de onda. Los sistemas WDS utilizan la difracción de rayos X como el medio por el cual separan los rayos X de diferentes longitudes de onda.
¿Qué es un análisis SEM?
La microscopía electrónica de barrido, o análisis SEM, proporciona imágenes de alta resolución útiles para evaluar varios materiales en busca de fracturas superficiales, fallas, contaminantes o corrosión.
¿Qué es el microscopio electrónico de barrido?
Un microscopio electrónico de barrido (SEM) escanea un haz de electrones enfocado sobre una superficie para crear una imagen. Los electrones en el haz interactúan con la muestra, produciendo varias señales que pueden usarse para obtener información sobre la topografía y composición de la superficie.
¿Qué tipo de microscopio es una microsonda?
Debido a que la microsonda electrónica es esencialmente un microscopio electrónico de barrido especializado, también se puede utilizar para recopilar imágenes electrónicas. Las imágenes de electrones secundarios (SEI) se utilizan principalmente para revelar las características y la morfología de la superficie.
¿Qué mide WDS?
La espectroscopia de rayos X de longitud de onda dispersiva (WDXS o WDS) es una técnica de análisis no destructiva que se utiliza para obtener información elemental sobre una variedad de materiales midiendo los rayos X característicos dentro de un rango de longitud de onda pequeño.
¿Por qué es WDS mejor que EDS?
Para fines de cuantificación, WDS siempre es mejor: mucha mejor resolución de energía/longitud de onda, mucho mejor relación pico/fondo. Los cambios de energía (cambios químicos) están determinados por la interacción de los electrones con las muestras, WDS es más adecuado para su detección. Por lo tanto, tanto la exactitud como la precisión son mejores para WDS.
¿Por qué AES es sensible a la superficie?
La sensibilidad de la superficie en AES surge del hecho de que los electrones emitidos generalmente tienen energías que van desde 50 eV a 3 keV y, en estos valores, los electrones tienen un camino libre medio corto en un sólido. Debido a la baja energía de los electrones Auger, la mayoría de las configuraciones de AES funcionan en condiciones de ultra alto vacío (UHV).
¿Cuál es la función de TEM?
El microscopio electrónico de transmisión se utiliza para ver muestras delgadas (secciones de tejido, moléculas, etc.) a través de las cuales pueden pasar electrones generando una imagen de proyección. El TEM es análogo en muchos aspectos al microscopio óptico convencional (compuesto).
¿Qué es la espectroscopia de catodoluminiscencia?
La catodoluminiscencia es un fenómeno óptico y electromagnético en el que los electrones que impactan sobre un material luminiscente como el fósforo provocan la emisión de fotones que pueden tener longitudes de onda en el espectro visible.
¿Para qué se utiliza EDX?
El análisis de rayos X por dispersión de energía (EDX), conocido como EDS o EDAX, es una técnica de rayos X utilizada para identificar la composición elemental de los materiales.
¿Qué elementos puede detectar XRF?
Puede analizar elementos desde berilio (Be) hasta americio (Am) en rangos de concentración desde 100 % en peso hasta niveles inferiores a ppm. El análisis XRF es una técnica robusta que combina alta precisión y exactitud con una preparación de muestras sencilla y rápida.
¿Qué es el análisis XRF?
XRF (fluorescencia de rayos X) es una técnica analítica no destructiva utilizada para determinar la composición elemental de los materiales. Los analizadores XRF determinan la química de una muestra midiendo los rayos X fluorescentes (o secundarios) emitidos por una muestra cuando es excitada por una fuente primaria de rayos X.
¿Cuáles son los componentes de SEM?
Componentes en un SEM
Fuente de electrones. Filamento de electrones de tungsteno (W). Hexaboruro de lantano (LaB6) o hexaboruro de cerio (CeB6) Pistola de emisión de campo (FEG)
Lentes.
Bobina de exploración.
Cámara de muestra.
detectores Detector de electrones retrodispersados (BSD) Espectroscopía de dispersión de energía (EDS) Detector de electrones secundarios (SED)
¿Por qué los microscopios petrográficos tienen polarizadores?
Los microscopios petrográficos están construidos con partes ópticas que no añaden efectos de polarización no deseados debido al vidrio filtrado, o polarización por reflexión en prismas y espejos. El uso de un polarizador hace posible ver la diapositiva en luz polarizada plana; el uso de dos permite el análisis bajo luz polarizada cruzada.
¿Qué significa TEM?
La microscopía electrónica de transmisión (TEM) es una técnica de microscopía en la que un haz de electrones se transmite a través de una muestra para formar una imagen.
¿Cuáles son las ventajas del microscopio electrónico de barrido?
Ventajas de la microscopía electrónica de barrido
Resolución. Esta prueba proporciona una resolución de imagen digital tan baja como 15 nanómetros, proporcionando datos instructivos para caracterizar microestructuras como fractura, corrosión, granos y límites de granos.
Estándar trazable para la ampliación.
Análisis químico.